基于故障物理的电子产品可靠性分析
发表于 2016-11-07 | 9647次阅读 | 作者 | 来源
题 目：基于故障物理的电子产品可靠性分析
主讲人：赵亮 博士
时 间：2016年11月8日（星期二）上午10:00
地 点：综合实验楼4-48
报告简介：
可靠性是电子产品的重要性能指标。针对电子产品的可靠性分析始于上世纪60年代，其最初主要基于数理统计的思想来开展相应的工作。随着电子技术的高速发展，基于数理统计思想的可靠性分析方式暴露出诸多问题。为了克服这些问题，自上世纪末开始，包括高校、研究所、企业在内的科研单位开始转向基于故障物理的思路来开展电子产品的可靠性分析工作。这一思路致力了解产品故障的根本原因，从而采取主动措施防止或延缓这些故障的发生，实现产品功能与可靠性设计的融合。目前，基于故障物理的电子设备可靠性分析已在NASA、波音、霍尼韦尔等国际顶尖科研机构中得到广泛应用，而国内的中电科、中航、华为、北航、电子科大等单位也将故障物理做为一个重要的研究方向。本次报告将介绍故障物理的基本概念及国内外应用现状，并就具体的基于故障物理的电子产品可靠性分析方式进行阐述。
赵亮，2016年6月毕业于中国工程物理研究院无线电物理专业，获理学博士学位。2016年7月至今在必赢电子游戏网站任教。研究方向包括：系统可靠性分析、数据挖掘、机器学习。以第一作者身份发表期刊论文10余篇。
